Sinusuri ang mga de-koryenteng circuit kapag nagse-set up at nag-aayos ng mga de-koryenteng kagamitan

Sa panahon ng pagsasaayos o pagkumpuni ng mga de-koryenteng kagamitan, ang mga de-koryenteng circuit ay maaaring direktang suriin o sa pamamagitan ng saligan.

Ang direktang paraan ng pagsubok ay ginagamit kapag ang simula at dulo ng electrical circuit na nasa ilalim ng pagsubok ay matatagpuan malapit sa isa't isa at walang auxiliary circuit ang kinakailangan.

Ang pamamaraan ng saligan ay inilaan para sa pagsubok sa mga de-koryenteng circuit kung saan ang mga simula at dulo ay matatagpuan sa isang malaking distansya. Ang paggamit nito ay sinamahan ng paggamit ng mga auxiliary circuit, na mga grounding wire, screen at metal sheath ng mga cable at core, espesyal na inilatag na mga wire, atbp.

Para sa bawat paraan ng pagsuri sa de-koryenteng circuit, ginagamit ang mga aparato, ang prinsipyo ng pagpapatakbo nito ay katulad ng prinsipyo ng pagpapatakbo ng probe (Larawan 1, a).

kanin. 1. Schematic (a) at probe symbol (b), halimbawa ng circuit test (c) at karaniwang mga error sa panahon ng pagsubok (d, e)

Kapag ang probe circuit ay sarado sa buong circuit na sinusubok, ang karayom ​​ng device P ay pinalihis sa parehong paraan tulad ng kapag ang mga terminal 1 at 2 ay short-circuited. Ang Resistor R ay nagsisilbing limitahan ang kasalukuyang dumadaloy sa metro. Sa mga sumusunod na figure, sa halip na ang kumpletong circuit ng probe, ang simbolo nito ay ipinapakita sa fig. 1, b.

Isaalang-alang natin, gamit ang isang halimbawa ng isang fragment ng isang electric drive control circuit (Fig. 1, c), ang pamamaraan para sa pagsuri ng mga electric circuit. Sa anumang kaso, ipinapayong simulan ang proseso ng inspeksyon mula sa mga supply circuit, halimbawa mula sa punto A.

Ang Probe P ay konektado sa mga punto A at B, na nagbibigay-daan sa iyo upang suriin ang circuit sa pagitan ng mga ito, at kapag pinindot mo ang pindutan S2 - ang kakayahang magamit ng pindutan at ang kawastuhan ng circuit sa pagitan ng mga punto A at B, at sa gayon ay kumpirmahin na ang Ang circuit sa pagitan ng mga ito ay nabuo sa pamamagitan ng S2 button contact at hindi sa pamamagitan ng anumang iba pang elemento ng circuit. Pagkatapos ang probe ay konektado sa mga punto B at L (pos. II sa Fig. 1, c), pinagsasama ang circuit check sa S3 button serviceability check. Ang pagkakasunud-sunod ng mga kasunod na pagsusuri ay ipinapakita sa fig. 1, sa kani-kanilang mga posisyon ng probe.

Kapag sinusubukan ang isang electric circuit na may isang probe, kinakailangan upang biswal na suriin ang bilang ng mga core ng mga cable at wire na konektado sa mga mounting point ng circuit. Halimbawa, sa mounting point B, dapat na nakakonekta ang dalawang wire sa terminal ng closing button na S3. - isang jumper mula sa button S2 at isang wire sa contactor contact K.

Kapag sinusuri ang mga circuit, ang espesyal na pansin ay dapat bayaran sa pag-obserba ng polarity sa DC circuits at phasing sa AC circuits.

Tingnan natin ang ilan sa mga pinakakaraniwang pagkakamali na ginawa kapag sinusuri ang mga de-koryenteng circuit. Halimbawa, ang circuit 1 — 2 (Fig. 1, d) ay manipulahin ng contact ng relay K1, samakatuwid, kapag ang probe ay konektado sa mga puntos 1 at 2, walang bukas na circuit sa contact circuit K2, maikli. circuit o pagsasara ng contact K4. Samakatuwid, upang subukan ang mga circuit na konektado sa mga punto 1 at 2, kailangan mo munang buksan ang relay contact K1.

Ang isa pang uri ng error na nagreresulta mula sa pagbuo ng mga huwad na circuits sa pamamagitan ng forward p-n junction resistance ng isang semiconductor diode, na inilalarawan sa Fig. 1, d. Kapag ikinonekta ang negatibong probe ng P probe sa punto 1, ang aparato ay magbibigay ng parehong mga pagbabasa tulad ng kapag kumukonekta sa isa pang probe sa punto 2, pati na rin sa mga punto 3, 4. Hindi ito mangyayari kung baligtarin mo ang polarity ng koneksyon sa probe.

Ang mga nasuri na halimbawa ay nagpakita ng pagpapatupad ng teknolohikal na paglipat na ito sa isang direktang paraan.

kanin. 2… Suriin ang mga electrical circuit sa pamamagitan ng grounding

Ang pagsubok sa saligan ay nagsisimula sa pag-install ng isang pansamantalang jumper E2 na may isang pindutan na naka-install dito sa isang dulo ng nasubok na cable E1... Pagkatapos, hawakan ang probe ng probe P hanggang sa core, suriin ang integridad ng auxiliary circuit: karaniwang wire (sa kasong ito «grounding») — button 5 — wire G — probe P — probe «plus» ng probe P — common wire.

Kung ang probe ay nagpapakita ng closed circuit, pindutin at bitawan ang button 5. Kung ang jumper ay na-install nang tama, ang P probe ay dapat baguhin ang pagbasa nito.

Matapos suriin ang pag-install ng jumper E2, nagsisimula silang maghanap ng ground wire sa pangalawang dulo ng cable sa pamamagitan ng pagkonekta sa P probe nang magkakasunod sa mga wire at pinapanood ang mga pagbabasa nito.Kung ang probe ay nagpapakita ng isang closed circuit, isaalang-alang ang nais na core na natagpuan, at pagkatapos ilipat ang ground jumper E2 sa isa pang core, patuloy na hanapin ito sa kabilang dulo ng cable.

Ang dahilan para sa pinakamadalas na mga error sa pagsubok sa pamamagitan ng paraan ng saligan ay ang pagtatalaga ng parehong numero sa iba't ibang mga de-koryenteng circuit at ang pagbuo ng isang maling circuit kapag ikinonekta ang nasubok na mga core ng isang wire o cable sa isang ground wire.

Upang maiwasan ang mga ganitong error, pagkatapos mahanap ang susunod na circuit, idiskonekta at muling ikonekta ang ground wire gamit ang S button. Kung ang probe ay tumugon sa pagdiskonekta ng ground wire, ang circuit ay natagpuan nang tama. Kung hindi man, kinakailangan upang mahanap at alisin ang sanhi ng maikling circuit ng nasubok na circuit na may ground wire.